工程師正在對(duì)燈珠進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，微焦X射線檢查裝置用來(lái)檢測(cè)成品燈珠或模組焊錫、焊線不良，也可用于器件的失效分析。
超聲波掃描顯微鏡可分層掃描、多層掃描，實(shí)施直觀的圖像分析，檢測(cè)產(chǎn)品缺陷。
工程師正在做LED產(chǎn)品的壽命測(cè)試，該測(cè)試主要用來(lái)評(píng)估產(chǎn)品耐高溫或耐濕熱劣化的能力。
一設(shè)備正在測(cè)量產(chǎn)品的納米級(jí)輪廓、粗糙度及薄膜厚度等參數(shù)。
工程師們匆匆走過(guò)一處以電路板為主題的墻面，別具一格的設(shè)計(jì)充滿科技感。
SEM-EDS用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類與含量進(jìn)行分析，觀察微小顆粒和半導(dǎo)體芯片平面結(jié)構(gòu)。
工程師正在對(duì)材料進(jìn)行拉伸、彎曲、剪切、撕裂、剝離等力學(xué)性能測(cè)試。
燈泡壽命有多長(zhǎng)？燈絲是否斷裂？燈珠老化情況如何？一盞小小的照明燈，從一粒粒燈珠到成品產(chǎn)出，需要經(jīng)過(guò)無(wú)數(shù)次的檢測(cè)。日前，記者走進(jìn)國(guó)家級(jí)企業(yè)技術(shù)中心——木林森中心實(shí)驗(yàn)室，見(jiàn)證工程師模擬各種測(cè)試環(huán)境，見(jiàn)證燈具產(chǎn)品的可靠性。
木林森中心實(shí)驗(yàn)室建于2013年，占地面積約1400平方米，總投資約5000萬(wàn)元，2018年7月12日，實(shí)驗(yàn)室正式通過(guò)CNAS認(rèn)證，成為國(guó)家級(jí)企業(yè)技術(shù)中心。此外，該實(shí)驗(yàn)室還獲評(píng)為廣東省企業(yè)技術(shù)中心、片式LED封裝工程技術(shù)研究中心、高穩(wěn)定性LED封裝及應(yīng)用關(guān)鍵技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室。
目前該實(shí)驗(yàn)室設(shè)立了LED光電測(cè)量實(shí)驗(yàn)室、失效分析實(shí)驗(yàn)室、可靠性實(shí)驗(yàn)室、材料實(shí)驗(yàn)室，配備有各種檢測(cè)及分析設(shè)備200多臺(tái)，其中包括微焦X射線檢查裝置、超聲波掃描顯微鏡、電子顯微鏡SEM等。其中，可靠性實(shí)驗(yàn)室可進(jìn)行高溫及高溫高濕環(huán)境可靠性壽命驗(yàn)證、冷熱沖擊溫度快速變化驗(yàn)證、脈沖老化驗(yàn)證、氣密性驗(yàn)證等。
當(dāng)天，在木林森中心實(shí)驗(yàn)室內(nèi)，工程師正在微機(jī)控制電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)上進(jìn)行檢測(cè)，只見(jiàn)檢測(cè)樣品放上去不久，就能聽(tīng)到“嘭”的一聲。木林森中心實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)人王莉表示，該機(jī)器可對(duì)檢測(cè)材料進(jìn)行拉伸、彎曲、剪切、撕裂、剝離等力學(xué)性能測(cè)試，能自動(dòng)檢測(cè)出材料的最大力值、屈服力值、斷裂力值及最大伸長(zhǎng)量、屈服伸長(zhǎng)量。
在可靠性實(shí)驗(yàn)室，一排排機(jī)器整齊排列，每臺(tái)機(jī)器上都標(biāo)明了各自的測(cè)試功能。其中，在高溫老化試驗(yàn)系統(tǒng)上，可通過(guò)透明的玻璃窗口看見(jiàn)檢測(cè)樣品，因?yàn)闇囟葮O高，整個(gè)檢測(cè)空間都泛著紅光。“燈珠老化與溫度、濕度都有關(guān)系，只有在燈光點(diǎn)亮之后，反復(fù)測(cè)試才能預(yù)估燈泡壽命。”王莉介紹，這些機(jī)器可以模擬-65℃到150℃的極端環(huán)境，檢測(cè)樣品需要在這樣的環(huán)境下循環(huán)測(cè)試50個(gè)回合，如果在任一檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，工程師就得層層深入找到問(wèn)題點(diǎn)，并針對(duì)性提出解決方案，直到產(chǎn)品100%合格后，才能順利出貨。
記者 明劍 陳雪琴 圖編 文智誠(chéng)
◆編輯：龍慧◆二審：蘇鵬蘊(yùn)◆三審：周亞平
